一、微区X射线荧光黄金首饰分析装置(论文文献综述)
李浩宇[1](2021)在《微波场中黄金浸出尾渣选择性氯化的工艺及机理研究》文中进行了进一步梳理我国难处理黄金浸出尾渣产量大,渣中含有金、铜和铅等有价元素,是重要的二次资源。传统氯化焙烧可高效挥发其中的有价元素,然而存在焙烧温度高,且采用天然气或煤作为能源,存在二氧化碳排放量大和烟气洗涤困难等弊端。本论文提出了一种低温低排放的微波氯化焙烧新方法。研究了难处理金矿浸出尾渣的工艺矿物学特性。分析了尾渣中不同组分的介电特性随温度的变化规律,及氯化剂对尾渣介电特性的影响。对比研究了常规和微波氯化焙烧中不同温区各组分对固体氯化剂分解的影响,以及金的选择性氯化过程。系统研究了微波功率、氯化剂种类及用量、气氛和流量等因素对氯化焙烧过程的影响。评估了焙烧渣中氯和氰根等有害组分的脱除率,及其对环境的潜在影响。具体研究结论如下:(1)原料主要由Si、Fe、Al、O和S等元素构成,同时包含Au、Cu、Pb和Zn等有价元素;矿物粒度微细,脉石矿物组成复杂,尾渣中的金以微细粒单体金、硫化物包裹金和石英包裹金的形态赋存;氰化物含量较高,为危险废弃物。(2)在氯化焙烧过程中四种选定的氯化剂分解为含氯气体,黄金经选择性氯化以AuCl3气体形式逸出。四种氯化剂中Ca Cl2分解反应较易发生,可在黄金包裹体打开的温区下提供足够的含氯气体,强化黄金及氯元素的挥发。常规氯化焙烧中,在Ca Cl2添加量5%、空气流量100L/h、焙烧温度1273K和焙烧时间15min条件下,金和氯的挥发率分别达到81.23%和89.17%。(3)黄金浸出尾渣中主要组分Fe2O3和SiO2等物相的介电特性差异大,在微波加热过程中形成微区热点和组分间的微观裂纹,可强化氯化焙烧反应动力学。在微波氯化焙烧优化工艺参数焙烧温度1173K、焙烧时间15min、Ca Cl2添加量5%和空气流量100L/h条件下,金和氯的挥发率分别为81.87%和94.85%。与常规氯化焙烧相比,微波氯化焙烧温度可降低100℃。常规和微波氯化焙烧过程的反应活化能分别为40.9k J/mol和27.62k J/mol,相较于常规焙烧过程,微波焙烧过程反应活化能降低了32.47%。(4)经常规和微波氯化焙烧后,黄金浸出渣中氰根含量由515g/t分别下降至4.00g/t和2.45g/t,微波氯化焙烧渣浸出毒性更低。常规和微波氯化焙烧渣中氯含量分别为1.2%和0.22%,表明微波氯化焙烧中更多的含氯气体挥发至烟气中,强化Cu、Pb和Zn等元素的氯化挥发。微波氯化焙烧过程中,更高浓度的含氯气体挥发后经烟气洗涤实现氯元素循环利用,可降低Ca Cl2使用量。
王祎亚,王毅民,邓赛文,高新华,梁国立,张中[2](2020)在《中国微束X射线荧光分析技术应用评介》文中研究说明简述了X射线荧光(XRF)分析与微束X射线荧光(MXRF)分析的技术特点、仪器构成、应用领域和工作范围。从准直的微束X射线荧光、整体X射线荧光与微束X射线荧光组合、波谱/能谱多功能组合和毛细管X光会聚透镜微束X射线荧光仪器四类仪器评介了中国微束X射线荧光仪器和分析技术的应用与发展。从分析功能定位和技术发展两方面,展望了微束X射线荧光技术的发展。提出将XRF分析中传统的微束原位(微区)XRF(MXRF)分析进一步区分为"微-纳区分析(μ/n-XRF)"和"微-毫区分析(μ/m-XRF)",如此区分该项技术及适用范围定位,对两者原位分析技术的发展都是有益的,特别也明确定位说明了整体/微区组合仪器的功能和适用范围发展与应用。作者强调:原位(微区)分析并非仅为单纯的分析工作,更重要的在于对被测样品特性的研究与结果解读!分析人员和专业科学家的密切合作,才能充分发挥原位微区分析技术的效能,充分解读展现分析结果的科学意义。
郑利珊[3](2019)在《一种环保黄金首饰电铸工艺及电铸层性能的研究》文中研究指明黄金首饰的消费量在黄金总消费量中占有的比重可以高达65%。黄金硬度较低,容易发生塑性变形制约着黄金首饰款式的创新和发展,电铸工艺的出现使得行业内可以制作强度更高的黄金首饰。在节约黄金用量的同时可以得到体积较大的黄金首饰,且不会降低首饰的强度。传统的黄金电铸工艺采用稳定性高的氰化体系,这种工艺使用的氰化钾对环境以及操作人员身体具有潜在的危害。原国家经贸委2002年6月发布的第32号令,限令2003年底淘汰“含氰电镀”。后由于无氰电沉积技术尚无法替代氰化物工艺,2007年10月国家发改委发布57号令,暂缓淘汰“含氰电镀”。无氰电铸工艺的应用以及普及具有必要性。目前主流的无氰电沉积体系为亚硫酸盐-硫代硫酸盐体系,金盐的制备环节复杂,成本高,电解液中的亚硫酸根容易发生分解,稳定性差。因此,该无氰体系在黄金首饰加工行业的普及推广具有较高的难度。本文以三价金离子和氯离子的络合物氯金酸作为络合物,研究了一种氯金酸黄金电铸工艺。该工艺已经完成了终试,经济指标、工艺指标、性能指标、环保指标均满足黄金首饰加工行业的要求。氯金酸无氰黄金电沉积工艺生产流程易操作、金盐制备简单、电解液使用寿命长、生产所需材料成本低,在成本方面有很大的优势;在工业生产条件下,规范了一整套工业生产流程,电沉积18h左右后黄金电铸样品厚度可以达到150200μm。每天每个电铸缸稳定生产300克硬金产品,电解液可以维持30天的稳定生产,得到的黄金电铸成品可以作为硬金产品;市场上氰化体系的硬金样品维氏硬度值在70HV左右,无氰黄金电铸工艺得到的硬金样品的维氏硬度值可以达到105HV左右。氯金酸无氰体系得到的产品相比氰化体系得到的产品表面光泽更强、硬度值更高;氯金酸体系生产过程中产生的废水废气易处理,对环境以及操作人员友好,在黄金首饰加工行业具有很高的应用推广价值。为了获得光泽良好、粗糙度低、晶粒小、硬度高、致密的黄金电铸层,研究了4种添加剂,添加剂种类以及浓度的变化对电沉积层光泽、微观结构、晶粒大小、织构系数和电沉积层成分(金的成分以及首饰行业规定有害元素含量)的影响为:(1)添加剂浓度为单一变量的对比试验对各组样品的光泽、晶粒大小、硬度值的综合指标评价,得到添加剂A的最佳浓度为20ppm,添加剂B最佳浓度为300ppm,添加剂C最佳浓度为210ppm,添加剂D最佳浓度为16ppm;(2)添加剂ABCD均为最佳浓度的组合添加剂条件下,黄金电沉积样品光泽强、平整度高,晶粒尺寸低至42.0nm,织构系数高达88.62%,维氏硬度值高达115.8HV。(3)根据霍尔佩奇公式,晶粒尺寸越小的样品,维氏硬度值越高。将样品的晶粒尺寸、织构系数和维氏硬度值做了多元线性回归分析,发现具有一定择优取向的电沉积层,其维氏硬度值受晶粒尺寸大小影响最大,织构系数影响不显着;(4)在理想的电源参数条件下,金含量可以高达99.9%的金层,且添加剂的使用不会引入首饰行业规定的对人体有害的致敏元素。为了进一步提高黄金电沉积层的宏观特征和整体强度,研究了电镀电源的工艺参数,发现脉冲周期对电沉积层结果具有较大的影响,随着脉冲周期的增大,电解液中电化学极化和浓差极化的相对强弱发生变化,样品的维氏硬度值呈先增大后减小的趋势;最佳的双向脉冲参数为:正向电流密度0.8A/dm2,正向占空比40%,正向脉冲频率333HZ,反向电流密度0.4A/dm2,反向占空比60%,反向脉冲频率1000HZ,正向工作周期40ms,反向工作周期20ms,脉冲周期60ms;使用双向脉冲电源可以得到晶粒尺寸为37.97nm,维氏硬度值高达122.8HV的黄金电沉积样品。脉冲电源尤其是双向脉冲电源条件下,相比直流电源而言,得到的样品光泽更强,维氏硬度值更高。单脉冲电源条件下样品的定向性最好;电流密度最佳范围为0.8A/dm21.5A/dm2,随着电流密度的增大,样品的均匀性下降。当电流密度增大至2.5A/dm2,会引起添加剂的分解,出现C和Au的共沉积,降低样品中金的纯度。氯金酸作为一种典型的三价金离子的络合物应用于无氰黄金电铸体系具有很高的研究价值和应用前景。首饰行业的黄金电铸有别于工业电沉积工艺,对金的成色以及微量元素的要求更严格,厚金的电沉积需要较长的电沉积周期,对体系的稳定性要求很高。本文以氯金酸无氰黄金电沉积工艺为基础,从添加剂和电源参数两个方面探讨了影响电沉积层硬度的相关因素,最终得到了宏观特征良好、强度较高、厚度达到200μm的厚金层;在工业环境下进行了扩大化生产,生产的硬金产品可以符合首饰市场要求。
全先荣[4](2019)在《贵金属检测用X射线荧光光谱仪专利技术分析》文中研究说明贵金属因其价值高,对测量精度要求较高,X射线荧光光谱技术作为一种无损检测技术,检出限在μg/g量级范围内,特别适合用来检测样品中贵金属元素的组成和含量,已经成为贵金属分析领域中的主要检测手段。文章旨在对适用于贵金属检测的XRF专利申请进行分析;理清其技术发展脉络,合理预期其未来发展趋势,供相关研究人员和企业参考。
钟达财[5](2019)在《电化学—质谱法在金属材料分析中的应用》文中认为金属材料是国家工业发展的命脉,其化学组成及结构决定其性能和应用,为充分发挥金属材料性能并将其合理使用,须对金属材料化学组成及结构进行分析和表征。因此,结合电化学原理和质谱检测分析的优势,发展了一种电化学质谱分析法,用于不规则金属样品分析和金属微区分析。本文主要研究内容分为:(1)电化学质谱法在不规则金属样品分析中的应用:发展了一种在线电化学质谱联用分析方法(EC/MS),详述了EC/MS分析方法原理,设计了EC/MS实验装置,考察了EC/MS分析方法定性分析和定量分析性能,并将EC/MS分析方法应用于日常生活和工业应用中常见不规则形状金属物品分析。实验结果表明,EC/MS方法无需样品预处理,可以直接分析大尺寸不规则形状金属样品,具有分析速度快、灵敏度高、样品消耗量低、对样品损伤性小等特点,可用于食品安全,环境检测,机械制造等领域多种不规则形状金属物品的质量安全检测。(2)电化学质谱法在金属微区分析中的应用:发展了一种电化学微探针质谱分析法(μECP-MS),阐释了μECP-MS分析方法的原理及分析过程,考察了μECP-MS分析方法的定性、定量分析性能及μECP-MS装置采样性能,通过分析合金、半导体微芯片、焊点等日常生活中常见金属样品,验证了μECP-MS分析方法的准确度,同时采用μECP-MS方法研究了合金组分在横向和纵向的空间分布,获得了合金组分在横向上高分辨质谱成像。实验研究表明,μECP-MS方法具有灵敏度高、选择性好等特点,可以分析金属样品表面的金属成分和有机物成分。
马静艳[6](2018)在《硫化矿样品的X射线荧光光谱分析》文中研究表明X射线荧光光谱分析技术(XRF)是利用X射线与物质产生的X射线荧光而进行的元素分析方法,采用探测器检测特征X射线荧光的能量和强度,从而实现定性和定量分析。X射线荧光光谱分析具有快速、多元素分析、制样简单、重现性好、准确度高、非破坏性和对环境无污染等特点,被广泛应用于多领域的样品分析。硫化铜矿石作为国家战略矿石之一,对其快速准确分析在开发利用方面具有重要意义。目前,矿物、矿石样品传统分析周期长,操作繁琐,不适合日常快速分析的要求。开发了X射线荧光光谱法快速测定硫化铜矿中主量元素的分析方法,实验采用玻璃熔融法制备硫化铜矿样品,在600℃下预氧化20min,使低价态的硫转变为硫酸盐,不仅避免了铂金坩埚被腐蚀,而且可以更好的测定以Cu和S为主的主量元素的含量。该方法为X射线荧光分析法在硫化矿样品分析领域的拓展提供了一套可借鉴的分析程序,有一定的实际应用价值。随着分析技术由整体分析向微区分析发展,地学研究由宏观表征向微观信息获取的发展,岩矿的分析研究已经由宏观深入到更微观的领域。目前实验室常规使用的微区分析技术包括电子探针、激光烧蚀等离子体质谱和各类电子显微镜等。微区X射线荧光光谱分析(Micro-XRF)技术作为一种基于普通X射线荧光的无损分析技术,是X射线光谱学领域的重要分支,可实现微米级微小区域内样品中多元素定性或定量分析,成为获取样品微区结构元素空间线扫描、面扫描分布及时序性信息的有力工具。使用了台式能量色散X射线荧光仪,对氧化物组合标样和矿物光片点扫描,对31个矿物光片和涂有防晒霜的指纹样品进行面扫描,5个金属薄膜片点扫描。当样品与聚焦点距离变化在-20μm~20 μm时,激发出的Fe、Cu、Zn、S的强度值最大。X射线荧光光谱分析测定金属膜层的厚度,其测量值与实际值偏差不大。该仪器还可以获取清晰的以不同材料为基底的指纹图像,在玻璃基底上获取的指纹纹理更清晰。微区X射线荧光光谱无损分析可得到类似切割板的多元素分布图,是分析元素分布规律的一种较快的方法,能快速测出金属膜层的厚度,高效率提取指纹。通过兰坪盆地铅锌铜多金属成矿区带典型矿山地区1:50000地质调查,采集云龙县的山坡、林地、草地等的土壤样品400多件,用波长色散-能量色散复合型X射线荧光光谱仪测量土壤重金属含量。得到土壤中重金属元素的平均值、中位值等,发现Zn和Pb元素含量的最大值点在同一位置点,在河库旁干涸处草地。Cu、Pb、Zn、As、Sb、Cd元素含量最大值的采样点均在水流附近,其中Cd元素的最大值点位于沘江附近,Cu、Pb、Zn、As、Sb、Cd等元素可能通过水流迁移。通过研究采矿区不同类型土壤表层中重元素的含量和分布特征,为调查矿区及周边水文地质条件、矿山开采带来的主要环境地质问题提供依据。
刘瑱,刘玉纯,梁述廷,林庆文[7](2014)在《微区原位X射线荧光光谱法测定银合金及首饰》文中认为利用带微区分析功能的新型X射线荧光光谱仪,对银合金及首饰中Ag、Cu、Zn等元素进行微区原位分析,建立合理的定量分析方法。该方法具有良好的精密度和准确度,可应用于银合金及首饰的无损检测,并象电子探针测量那样避开焊点,准确地测定各元素的含量。
刘玉纯[8](2013)在《岩矿鉴定新技术—X射线荧光光谱微区分析在有色金属矿石鉴定上的应用研究》文中研究表明传统的岩矿鉴定方法是利用显微镜,通过观察矿物物理性质、矿物形态、矿物共生特征及矿物间相互关系来鉴别矿物种类和岩石类别,是岩矿鉴定的基本手段。但是自然界很多矿物存在类质同象现象,如黝铜矿和砷黝铜矿、方铅矿和硒铅矿、钨铁矿和钨锰矿等,这些矿物在显微镜下特征相似难以区分。需要借助电子显微镜、电子探针分析、离子探针分析等手段,以获取矿物的化学成分和结构,为矿物鉴别、命名和研究提供有用的信息。本文利用新型X射线荧光光谱仪的微区分析功能,建立一个以X射线荧光光谱微区分析为主的岩矿鉴定全新方法,获取矿物的微区原位化学成分,解决类质同象矿物、大部分不常见硫化物以及一些少见矿物在显微镜下鉴定困难的问题,提高矿物定名的准确性。同时能够充分挖掘这类仪器的潜能,拓宽X射线荧光光谱分析的应用领域,提高仪器的使用效率,补充和完善了微区分析技术。主要包括以下几点:1、根据本文研究的需要,收集铜、铅、锌、钨和钼等有色金属矿石标本共计60件。标本经切片、平面处理、抛光等步骤制成待鉴定的光片。在显微镜下对矿石标本进行研究鉴别,并结合电子探针分析的结果,给矿物定名,描述其结构构造特点,对矿石所表现的各种特征作矿物学解释。2、利用各元素优化后的最佳条件对矿石标本指定区域,进行元素分布分析,利用各待测元素的荧光强度,绘制元素的二维或三维分布图,建立X射线荧光光谱微区分析定性鉴定岩石矿物模型。3、研究矿石标本中可能存在的干扰元素对待测元素分析谱线的谱线重叠情况,同时选择最佳校正方案校正矿石的基体效应和矿物效应对定量分析结果的影响,建立X射线荧光光谱微区分析定量鉴定岩石矿物模型。并用电子探针分析、化学分析等其它分析方法验证定量鉴定结果,进一步完善X射线荧光光谱微区定量分析技术。4、用建立的微区分析鉴定模型鉴定收集的矿石标本,绘制组分在测定区域内的分布图,根据主体组分含量,结合矿物组分含量的理论值,给矿物定名。
汤志勇,邱海鸥,郑洪涛[9](2012)在《岩石矿物分析》文中研究指明评述了2010年6月~2012年5月期间国内在岩石矿物分析领域的研究与应用现状及进展概况。内容包括综述与会议、试样的前处理、滴定法和重量法、光度法、原子光谱法、X射线荧光光谱法、电感耦合等离子体质谱法、电化学分析法、化学物相分析及形态分析、质量控制及标准物质、标准方法等。收集文献582篇。
吴嵩,许雅,李晨光[10](2012)在《常见黄金表面的变色现象》文中认为用X射线荧光光谱法(XRF)对常见黄金饰制品表面变色现象进行分析,发现常见黄金饰制品表面变白是因为黄金与汞接触形成金汞齐。黄金首饰连接处发黑一般是由于连接处焊药银含量过高引起的。黄金摆件表面因为残留了微量的银,残留银聚集的部位氧化后出现红棕色斑点。
二、微区X射线荧光黄金首饰分析装置(论文开题报告)
(1)论文研究背景及目的
此处内容要求:
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景,再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题,并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例:
本文主要提出一款精简64位RISC处理器存储管理单元结构并详细分析其设计过程。在该MMU结构中,TLB采用叁个分离的TLB,TLB采用基于内容查找的相联存储器并行查找,支持粗粒度为64KB和细粒度为4KB两种页面大小,采用多级分层页表结构映射地址空间,并详细论述了四级页表转换过程,TLB结构组织等。该MMU结构将作为该处理器存储系统实现的一个重要组成部分。
(2)本文研究方法
调查法:该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法:用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法:通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法:通过调查文献来获得资料,从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法:依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法:对研究对象进行“质”的方面的研究,这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法:通过具体的数字,使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法:运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法:这是社会科学用来分析社会现象的一种方法,从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法:通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
三、微区X射线荧光黄金首饰分析装置(论文提纲范文)
(1)微波场中黄金浸出尾渣选择性氯化的工艺及机理研究(论文提纲范文)
摘要 |
Abstract |
第一章 绪论 |
1.1 黄金的概述 |
1.1.1 黄金的性质及用途 |
1.1.2 黄金资源储量分布 |
1.2 黄金冶炼工艺的研究现状 |
1.2.1 氰化法 |
1.2.2 非氰化法 |
1.3 难处理金矿浸出渣的特征及处置 |
1.3.1 难处理金矿浸出渣概述 |
1.3.2 难处理金矿浸出渣的矿相特征 |
1.3.3 难处理金矿浸出渣的分类 |
1.3.4 难处理金矿浸出渣资源化及无害化处理 |
1.4 难处理金矿浸出渣处理技术研究现状 |
1.5 氯化焙烧产业化应用简述 |
1.6 微波加热原理及在矿冶中的应用 |
1.6.1 微波及微波加热 |
1.6.2 微波加热机理 |
1.6.3 微波加热特点 |
1.6.4 微波在矿冶中的应用简述 |
1.7 研究意义及内容 |
1.7.1 研究意义 |
1.7.2 研究内容 |
第二章 实验过程及方法 |
2.1 化学药剂 |
2.2 实验方案与流程 |
2.3 实验设备 |
2.3.1 常规焙烧实验设备 |
2.3.2 微波焙烧实验设备 |
2.4 物料介电特性测试 |
2.4.1 介电特性测试设备 |
2.4.2 介电特性测试原理 |
2.4.3 介电特性测试方法 |
2.5 表征分析方法 |
第三章 黄金浸出尾渣物相特征研究 |
3.1 黄金浸出尾渣表征 |
3.1.1 黄金浸出尾渣矿相分析 |
3.1.2 黄金浸出尾渣微区分析 |
3.2 黄金赋存状态分析 |
3.3 黄金包裹体矿物学分析 |
3.4 本章小结 |
第四章 黄金浸出尾渣常规氯化焙烧的过程研究 |
4.1 氯化焙烧过程研究 |
4.1.1 氯化剂的分解反应研究 |
4.1.2 目标元素的氯化反应研究 |
4.2 常规氯化焙烧条件实验 |
4.2.1 氯化剂种类对金挥发率和氯脱除率的影响 |
4.2.2 焙烧温度对金挥发率和氯脱除率的影响 |
4.2.3 CaCl_2用量对金挥发率和氯脱除率的影响 |
4.2.4 焙烧气氛及流量对金挥发率和氯脱除率的影响 |
4.3 CaCl_2体系氯化焙烧过程 |
4.3.1 物相分析 |
4.3.2 热重分析 |
4.3.3 残留氰化物含量分析 |
4.4 本章小结 |
第五章 黄金浸出尾渣介电特性研究 |
5.1 温度对介电参数影响的理论分析 |
5.2 渣中不同物相单元介电特性分析 |
5.2.1 温度对介电常数的影响 |
5.2.2 温度对介电损耗因子的影响 |
5.2.3 温度对介电损耗角正切的影响 |
5.2.4 温度对穿透深度的影响 |
5.2.5 温度对升温曲线的影响 |
5.2.6 渣中不同物相单元的介电特性分析 |
5.3 CaCl_2的添加对原料介电性能的影响 |
5.3.1 CaCl_2的添加对介电常数的影响 |
5.3.2 CaCl_2的添加对介电损耗因子的影响 |
5.3.3 CaCl_2的添加对介电损耗角正切的影响 |
5.3.4 CaCl_2的添加对微波穿透深度的影响 |
5.3.5 CaCl_2的添加对升温行为的影响 |
5.4 本章小结 |
第六章 黄金浸出尾渣微波氯化焙烧的过程研究 |
6.1 微波氯化焙烧条件实验 |
6.1.1 微波功率对升温行为的影响 |
6.1.2 氯化剂种类对金挥发率和氯脱除率的影响 |
6.1.3 焙烧温度对金挥发率和氯脱除率的影响 |
6.1.4 CaCl_2含量对金挥发率和氯脱除率的影响 |
6.1.5 气氛及流量对金挥发率和氯脱除率的影响 |
6.2 微波焙烧过程分析及包裹体的物相转变 |
6.2.1 微波氯化焙烧过程分析 |
6.2.2 黄金包裹体的物相转变研究 |
6.3 原料及焙烧渣的表征分析 |
6.3.1 原料和微波焙烧渣的表征及对比分析 |
6.3.2 原料焙烧渣和混合料焙烧渣的表征及对比分析 |
6.3.3 微波焙烧渣和常规焙烧渣的表征及对比分析 |
6.4 焙烧渣后处理与指标分析 |
6.4.1 焙烧渣作为建材原料的可行性评估 |
6.4.2 微波强化有害组分的脱除过程分析 |
6.5 动力学分析 |
6.5.1 动力学模型分析 |
6.5.2 常规和微波氯化焙烧动力学分析 |
6.6 本章小结 |
第七章 结论、创新点及展望 |
7.1 结论 |
7.2 创新点 |
7.3 展望 |
致谢 |
参考文献 |
附录 |
(2)中国微束X射线荧光分析技术应用评介(论文提纲范文)
引 言 |
(1) 准直光束MXRF仪器: |
(2) X射线光导管、 聚毛细管透镜MXRF仪器: |
1 中国MXRF分析技术发展与应用 |
1.1 准直型微束XRF仪器及应用 |
1.2 整体XRF与微束XRF组合仪器及其应用 |
1.3 多功能XRF仪器中MXRF及其应用 |
1.4 聚X光透镜的MXRF及应用 |
2 MXRF分析技术与应用展望 |
2.1 分析功能定位 |
2.2 技术发展 |
(1) 聚焦元件及其性能改进 |
(2) 整机的综合性能 |
(3) 多功能组合仪器中的μ/m-XRF |
3 结 论 |
(3)一种环保黄金首饰电铸工艺及电铸层性能的研究(论文提纲范文)
作者简历 |
摘要 |
abstract |
第一章 绪论 |
1.1 课题的研究背景 |
1.2 金的络合物的研究历史及现状 |
1.3 电镀工艺和电铸工艺的对比 |
1.4 不同电沉积体系的添加剂以及电铸层杂质元素的种类 |
1.4.1 氰化体系主要添加剂和电沉积层的杂质元素种类 |
1.4.2 无氰体系主要添加剂和电沉积层的杂质元素种类 |
1.4.3 其它电沉积体系的添加剂和电沉积层的杂质元素 |
1.5 本课题的研究内容及意义 |
1.6 本课题的研究特色 |
第二章 电沉积实验环境和电沉积层测试方法 |
2.1 实验原理 |
2.2 实验材料和设备 |
2.2.1 实验材料 |
2.2.2 实验设备 |
2.3 黄金电沉积工艺的介绍 |
2.3.1 电解液的配制 |
2.3.2 阴极的选择和制备 |
2.3.3 阳极的制作和选择 |
2.3.4 电解槽及电铸工艺试验的环境的设计 |
2.3.5 电沉积实验电源的选择 |
2.3.6 电沉积实验装置的介绍 |
2.4 黄金电铸层测试技术和分析方法 |
2.4.1 电沉积层宏观特征评价 |
2.4.2 电沉积层晶粒尺寸 |
2.4.3 电沉积层微观结构的观察 |
2.4.4 电沉积层晶面择优取向 |
2.4.5 电沉积层成色以及共沉积元素的测试 |
2.4.6 电化学测试 |
2.4.7 电沉积层硬度测试 |
2.5 本章小节 |
第三章 添加剂对电沉积层性能的影响 |
3.1 添加剂的分类和筛选 |
3.2 添加剂对氯金酸体系阴极过程的影响 |
3.3 添加剂对电铸层宏观特征和微观形貌的影响 |
3.4 添加剂对电沉积层晶粒大小的影响 |
3.5 添加剂对电沉积层晶面定向性的影响 |
3.6 添加剂对电沉积层维氏硬度的影响 |
3.7 添加剂对电沉积层主成分和微量元素的影响 |
3.8 本章小结 |
第四章 电沉积工艺条件对电沉积层性能的影响 |
4.1 电沉积过程电沉积层的变化规律 |
4.2 组合添加剂条件下的最佳电流密度范围 |
4.3 直流电源和脉冲电源对氯金酸体系的影响 |
4.3.1 双脉冲电源参数的选择 |
4.3.2 电源类型对电沉积层的影响 |
4.4 本章小结 |
第五章 氯金酸电铸工艺在首饰行业实际应用的探索 |
5.1 工业电铸和首饰行业电铸的对比 |
5.2 无氰黄金电铸工艺在黄金首饰行业应用中存在的问题 |
5.3 氯金酸体系无氰黄金电铸工艺的应用 |
5.4 氯金酸体系无氰黄金电铸样品和市场上有氰电铸样品的对比 |
5.5 氯金酸体系无氰硬金工艺的扩大化生产 |
5.6 本章小结 |
第六章 结论 |
致谢 |
参考文献 |
(4)贵金属检测用X射线荧光光谱仪专利技术分析(论文提纲范文)
1 概述 |
2 专利技术发展路线 |
3 结束语 |
(5)电化学—质谱法在金属材料分析中的应用(论文提纲范文)
摘要 |
ABSTRACT |
第一章 绪论 |
1.1 引言 |
1.2 金属材料常用的分析方法 |
1.2.1 称量分析法及滴定分析法 |
1.2.2 光谱法 |
1.2.3 电化学分析法 |
1.2.4 电感耦合等离子体质谱法 |
1.3 金属材料在线分析方法 |
1.3.1 能量色散X射线荧光光谱法 |
1.3.2 激光烧蚀电感耦合等离子体质谱法 |
1.3.3 质子激发X射线荧光分析法 |
1.3.4 电子探针分析法 |
1.3.5 二次离子质谱法 |
1.3.6 辉光放电质谱法 |
1.4 电化学质谱法 |
1.5 本文研究内容和意义 |
第二章 电化学质谱法在不规则金属样品表面分析中的应用 |
2.1 引言 |
2.2 实验部分 |
2.2.1 仪器与试剂 |
2.2.2 EC/MS实验装置 |
2.3 结果与讨论 |
2.3.1 Ni~(2+)、Cu~(2+)和Pb~(2+)校准曲线 |
2.3.2 黄金首饰中镍、铜、铅的检测 |
2.3.3 燃料喷嘴内壁上Pb分析 |
2.3.4 轴承滚珠的耐腐蚀性分析 |
2.4 小结 |
第三章 电化学质谱法在金属材料微区分析中的应用 |
3.1 引言 |
3.2 实验部分 |
3.2.1 试剂与仪器 |
3.2.2 微电化学探针质谱法实验装置 |
3.2.3 微电化学探针质谱法分析过程 |
3.3 实验结果与讨论 |
3.3.1 微电化学探针质谱法采样过程表征 |
3.3.2 微电化学探针质谱法分析性能表征 |
3.3.3 微电化学探针质谱法在合金质谱成像中的应用 |
3.3.4 微电化学探针质谱法在芯片测试中的应用 |
3.3.5 微电化学探针质谱法在焊接质量测试中的应用 |
3.4 小结 |
第四章 结论与展望 |
参考文献 |
致谢 |
(6)硫化矿样品的X射线荧光光谱分析(论文提纲范文)
摘要 |
Abstract |
第一章 绪论 |
1.1 研究现状和进展 |
1.2 选题依据及研究意义 |
1.3 研究内容和技术路线 |
1.4 课题来源 |
第二章 X射线荧光光谱分析技术 |
2.1 X射线荧光光谱分析的理论基础 |
2.1.1 X射线的产生及其性质 |
2.1.2 X射线光谱 |
2.1.3 定性分析 |
2.1.4 定量分析 |
2.2 X射线荧光光谱仪 |
2.3 微区X射线荧光光谱仪 |
2.4 便携式X射线荧光光谱仪 |
2.5 本章小结 |
第三章 硫化铜矿的X射线荧光光谱分析 |
3.1 仪器设备及试剂样品 |
3.1.1 仪器设备 |
3.1.2 试剂样品 |
3.1.3 硫化铜矿样品 |
3.2 实验部分 |
3.2.1 玻璃熔片制备 |
3.2.2 仪器参数的选择和测量条件的选择 |
3.3 结果与讨论 |
3.3.1 制样方法 |
3.3.2 预氧化条件 |
3.3.3 熔融温度和熔融时间 |
3.3.4 脱模剂的选择 |
3.3.5 标准物质选择 |
3.3.6 准确度和精密度 |
3.3.7 实际样品测量 |
3.4 本章小结 |
第四章 微区X射线荧光光谱分析 |
4.1 仪器设备及样品 |
4.2 实验部分 |
4.2.1 氧化物组合标样和矿物光片 |
4.2.2 硫化铜矿光片和硫化铜矿熔融片 |
4.2.3 金属薄膜 |
4.2.4 指纹样品 |
4.3 结果和讨论 |
4.3.1 荧光强度与聚焦点位置关系 |
4.3.2 光片和硫化铜矿熔融片的分析研究 |
4.3.3 金属薄膜分析 |
4.3.4 指纹分析 |
4.4 本章小结 |
第五章 矿区土壤X射线荧光光谱分析 |
5.1 研究区概况 |
5.2 土壤样品采集和制备 |
5.3 实验部分 |
5.3.1 仪器及工作条件 |
5.3.2 主要试剂和样品 |
5.3.3 土壤样品的前处理 |
5.3.4 分析测试 |
5.4 结果与讨论 |
5.5 本章小结 |
结论 |
致谢 |
参考文献 |
附录 |
个人简介 |
学术成果 |
(7)微区原位X射线荧光光谱法测定银合金及首饰(论文提纲范文)
0 引言 |
1 实验部分 |
1.1 仪器 |
1.2 分析元素测定条件 |
1.3 标准样品的选择 |
2 结果和讨论 |
2.1 银的测量 |
2.2 微区分析校准曲线 |
2.3 方法精密度和准确度 |
2.4 分析结果对照 |
3 结语 |
(8)岩矿鉴定新技术—X射线荧光光谱微区分析在有色金属矿石鉴定上的应用研究(论文提纲范文)
作者简介 |
摘要 |
ABSTRACT |
第一章 绪论 |
§1.1 岩石矿物鉴定方法 |
1.1.1 微化分析 |
1.1.2 热分析 |
1.1.3 X射线分析 |
1.1.4 激光光谱分析 |
1.1.5 拉曼光谱分析 |
1.1.6 红外光谱分析 |
1.1.7 电子显微镜 |
1.1.8 电子探针分析 |
1.1.9 离子探针分析 |
§1.2 本文的立题意义与研究内容 |
1.2.1 本文的立题背景与意义 |
1.2.2 本文的研究内容 |
第二章 理论基础和国内外研究现状 |
§2.1 X射线荧光光谱分析原理 |
2.1.1 X射线的特征 |
2.1.2 X射线光谱 |
2.1.3 特征荧光X射线的产生 |
2.1.4 X射线的分光 |
2.1.5 定性分析和定量分析 |
§2.2 元素微区分布分析原理 |
2.2.1 极坐标样品台 |
2.2.2 元素分布分析 |
2.2.3 微小区域分布分析 |
§2.3 国内外研究现状 |
第三章 显微镜鉴定 |
§3.1 矿石标本收集 |
§3.2 矿石光片的制作 |
3.2.1 切片 |
3.2.2 平面处理 |
3.2.3 抛光 |
§3.3 显微镜鉴定 |
3.3.1 铜矿石 |
3.3.2 铅矿石(仅有方铅矿) |
3.3.3 锌矿石(仅有闪锌矿) |
3.3.4 钨矿石 |
3.3.5 钼矿石(仅有辉铝矿) |
第四章 岩矿鉴定新技术研究-定性鉴定模型的建立 |
§4.1 仪器配置 |
§4.2 定性鉴定模型的建立 |
4.2.1 全元素定性鉴定 |
4.2.2 部分元素定性鉴定 |
第五章 岩矿鉴定新技术研究-定量鉴定模型的建立 |
§5.1 定量鉴定模型的建立 |
5.1.1 鉴定方法文件 |
5.1.2 组分选择 |
5.1.3 标本制备 |
5.1.4 标准样品 |
5.1.5 成分信息 |
5.1.6 参数 |
5.1.7 优化测量条件 |
5.1.8 测定标准物质 |
5.1.9 回归标准曲线、建立鉴定模型 |
§5.2 谱线重叠干扰与基体效应 |
5.2.1 谱线重叠干扰 |
5.2.2 基体效应 |
§5.3 定量鉴定方法检出限、精密度、准确度 |
5.3.1 定量鉴定方法的检出限、标准物质含量范围 |
5.3.2 定量鉴定方法精密度 |
5.3.3 定量鉴定方法准确度 |
§5.4 定量鉴定与结果验证 |
5.4.1 定量鉴定 |
5.4.2 定量鉴定结果验证 |
第六章 岩矿鉴定新技术应用 |
§6.1 铜矿石 |
§6.2 铅矿石 |
§6.3 锌矿石 |
§6.4 钨矿石 |
§6.5 钼矿石 |
第七章 结论与展望 |
§7.1 结论 |
§7.2 展望 |
致谢 |
参考文献 |
(9)岩石矿物分析(论文提纲范文)
1 综述与会议 |
2 试样的前处理 |
3 滴定法与重量法 |
4 光度法 |
5 原子光谱分析法 |
6 X射线荧光光谱法 |
7 电感耦合等离子质谱法 |
8 电化学分析法 |
9 化学物相分析及形态分析 |
10 质量控制及标准物质、标准方法 |
致谢: |
(10)常见黄金表面的变色现象(论文提纲范文)
0 引言 |
1 分析 |
1.1 黄金饰制品表面变白 |
1.2 黄金饰制品表面变黑 |
1.3 黄金饰制品表面变红棕色 |
2 结语 |
四、微区X射线荧光黄金首饰分析装置(论文参考文献)
- [1]微波场中黄金浸出尾渣选择性氯化的工艺及机理研究[D]. 李浩宇. 昆明理工大学, 2021(02)
- [2]中国微束X射线荧光分析技术应用评介[J]. 王祎亚,王毅民,邓赛文,高新华,梁国立,张中. 光谱学与光谱分析, 2020(06)
- [3]一种环保黄金首饰电铸工艺及电铸层性能的研究[D]. 郑利珊. 中国地质大学, 2019(06)
- [4]贵金属检测用X射线荧光光谱仪专利技术分析[J]. 全先荣. 科技创新与应用, 2019(15)
- [5]电化学—质谱法在金属材料分析中的应用[D]. 钟达财. 东华理工大学, 2019(01)
- [6]硫化矿样品的X射线荧光光谱分析[D]. 马静艳. 中国地质科学院, 2018(07)
- [7]微区原位X射线荧光光谱法测定银合金及首饰[J]. 刘瑱,刘玉纯,梁述廷,林庆文. 安徽地质, 2014(03)
- [8]岩矿鉴定新技术—X射线荧光光谱微区分析在有色金属矿石鉴定上的应用研究[D]. 刘玉纯. 中国地质大学, 2013(07)
- [9]岩石矿物分析[J]. 汤志勇,邱海鸥,郑洪涛. 分析试验室, 2012(12)
- [10]常见黄金表面的变色现象[J]. 吴嵩,许雅,李晨光. 上海计量测试, 2012(04)